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產(chǎn)品中心
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每天產(chǎn)生高達(dá) 8000L 的 III 級(jí)實(shí)驗(yàn)室級(jí)純水RiOs 反滲透系統(tǒng)設(shè)計(jì)為每天可以從自來水產(chǎn)生高達(dá) 8000L 的 III 級(jí)實(shí)驗(yàn)室級(jí)純水。
保修期三年
采用的Ｘ射線集束毛細(xì)管透鏡，X射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域，從而達(dá)到高靈敏度、高精度分析！μEDX大幅度地提高了傳統(tǒng)的X射線熒光光譜儀無法完成的微小領(lǐng)域分析的靈敏度。配備新開發(fā)的X射線集束毛細(xì)管透鏡，實(shí)現(xiàn)了Z小分析直徑達(dá)50μm的微區(qū)測定，適合半導(dǎo)體/電子部件/食品領(lǐng)域等高靈敏度、高分辨率分析。
WA System C是測定濾過水，沉淀水，原水的色度等的連續(xù)監(jiān)測器，其根據(jù)上水試驗(yàn)方法中日常檢查項(xiàng)目所確定的色度管理，以連續(xù)，自動(dòng)方式進(jìn)行。
本儀器是一種手持式測量儀，它能快速、無損傷、精密地測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。可廣泛用于在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。本儀器是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
采用該系統(tǒng)可以解決霉菌的測量問題?？梢酝瑫r(shí)測量色度和濁度。雙光束光學(xué)系統(tǒng)，改善了測量的準(zhǔn)確度。在色度測量時(shí)的濁度的問題被解決。
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